-
浏览414
GBT 37977.51-2023 静电学 第5-1部分：电子器件的静电防护 通用要求
免费 414 0 17
-
浏览
310
IEC 62132-1-2015-GBT 42968.1-2023
免费 310 0 21
-
浏览
452
GBT 37977.51-2023 静电学 第5-1部分：电子器件的静电防护 通用要求
免费 452 0 17
-
浏览
260
IEC 62435-5
免费 260 0 16
-
浏览
293
20ANSI-ESD-S20.20-2021 静电防护的ESD 标准
免费 293 0 0
-
浏览
264
JEP132A
免费 264 0 39
-
浏览
404
QJ 3011A-2016 航天电子电气产品焊接通用技术要求(1)
免费 404 0 16
-
浏览
278
IEC 60749-34
免费 278 0 13
-
浏览
291
20ANSI-ESD-S20.20-2021 静电防护的ESD 标准
免费 291 0 0
-
浏览
322
IEC 62435-5
免费 322 0 16
-
浏览
319
-
浏览
291
SJ 21062-2016 半导体芯片产品处理、包装和贮存的操作要求(1)
免费 291 0 16
-
浏览
562
J-STD-046 PCN
免费 562 0 14
-
浏览
1408
IEC61000-4-2中文版
免费 1408 0 25
-
浏览
1236
JS-002-2022 (1)
免费 1236 0 126
-
浏览
965
IEC61000-4-5
免费 965 0 11
-
浏览
1095
GJB548B-2005 -HBM微电子器件试验方法和程序
免费 1095 0 0
-
浏览
1296
MIL-STD-883K-3015.9
免费 1296 0 0
-
浏览
847
MOSFET常见失效的机理讨论
免费 847 0 27
DOC热门文档
more >
更多热门
-
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
vip 1801 0
-
12 GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序
免费 617 0
-
12 GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序
免费 505 0
-
12 GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序
免费 523 0
-
IPC-A-610H CN 2020-电子组件的可接受性
免费 724 0
-
GBT 7092-2021(1)
免费 847 0
-
JEP174_EOS
免费 470 0
-
MIL-STD-750-2
免费 946 0
-
JESD238A hbm3
免费 468 0
-
GR468CORE Issue1.PDF
vip 1525 0
-
IPC-7095D-BGA设计与组装工艺的实施
免费 1150 0
-
1_IPC-7095D-BGA设计与组装工艺的实施(3)
免费 856 0
-
GR-468-CORE Issue 2， September 2004
vip 2102 0
-
IPC-4101C刚性及多层印制板用基材规范
免费 624 0
POUULAR热门关注
宸优创芯
扫码微信公众号 给你想要的成长