ppm得拿elfr数据参考。htol样本量太小了,htol更多的侧重于评估芯片本身的寿命,其实不管怎么算出来，都只能和客户说是ppm评估值，实际值要按照实际出货量和客退来算。
发布于2022-05-16
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Scan还是mbist的shmoo, 看看fail cycles是不是有共性，是不是接地不干净，GND noise太大了。
发布于2022-05-16
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VBD和Oxide Breakdown电压，WAT的测试里面都有相应的测试结果可以直接参考。HCI和TDDB都会有RE的测试结果，不同电压的可靠性时间都可以直接推出来。VBD不随加压时间Degree，你可以直接参考WAT的结果，留出一定的Window就可以。
发布于2022-05-06
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