请教下SLT测试覆盖率是否全面？
覆盖全或者不全，必须加上前提条件。扫描内部管子， Scan最全。检查功能性问题，SLT最全。SLT工作模式接近Enduser使用方式，所以最容易抓到问题。

发布于2022-05-16

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请教一下封装厂说的光圈过大，这个是fab厂的defect的么？
可以从以下几个方面考虑：1，与厚度相关，这个感觉是因为thinfilm的导致的色差，需要调取AOI的数据查一下。2. 最后的 TF resin rinse也有这个问题。3，wet etch的defect ? 需要看细部。

发布于2022-05-16

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请问谁知道个别芯片Flash的值有没有可能产生变化？哪些因素可能影响？
极端情况下，粒子辐射确实会对Flash的Floating Gate结构产生影响，造成电荷泄露，影响数据状态。但一般情况下，辐射遇到的情况较少，甚至比ESD影响都小。工业级使用环境对Flash内部数据造成影响的主要因素有两个：即使用温度和Cycle次数。如果评估的话，一般辐射基本上没啥影响，但UV会有影响，还有离子污染等。

发布于2022-05-06

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