在一些应用中常用几个MOSFET并联扩流或散热，当用有保护的电源调试系统时不小心电路出了问题时通常只会烧一个管，如何判断是那个MOSFET损坏？
用万用表打在电阻挡，检测每个MOSFET的D-G的电压，红笔接D，电阻最小的那个MOSFET就是损坏的那个。

发布于2022-05-17

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请教一下各位，用于可靠性测试（比如HTOL/HAST）的socket的寿命一般是怎么考虑的？
htol的厂商一般都说1万小时左右，不过这个在不变形，电性能正常的情况下一直都能用，我就有一款SOP8封装的，用了5万小时，socket没坏几个，到是电路板上的其他元器件不是很好了。跟功耗(发热)和电路复杂度也有关。功耗大，socket寿命相对就短;电路复杂，能稳定运行的时间也会比较短，比如有各种相对大功耗的PHY BIST在切换，后来就担心复杂电路跑不顺，也不敢用了。这种一般5000小时左右。

发布于2022-05-07

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请问如果是纯粹的CP pad需要做ESD保护么？
要，至少要有HBM500V的能力，考虑用Buffer解决。Buffer本身有一定ESD能力，也就是如果CP pad有输出信号要看，本身的输出管可以看做一定的ESD防护能力的。输入管脚需要特别考虑看下基本的ESD防护。

发布于2022-05-06

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