已解决 请教下各位，如果芯片尺寸很大，12寸wafer可能一片wafer只有300颗die。每颗成本很高，做可靠性测试的样本数量能适当减少吗？
2022-05-16 17:25:11 404人查看 1人回复 举报
已解决 请问谁知道个别芯片Flash的值有没有可能产生变化？哪些因素可能影响？
2022-05-06 19:54:56 370人查看 1人回复 举报