各位大佬，有个问题请教，砷化镓的芯片可以做bumping吗？
可以的呢。

发布于2022-05-16

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请教一个CP/FT测试问题，Scan覆盖了芯片99%以上的组合逻辑和时序逻辑，那么数字模块还需要测功能吗？为什么实际测试数据Scan和Full Chip DC参数都 pass的芯片，数字模块的测试还有Yield loss？\u0014这部分失效？
如果有Scan覆盖不到的地方，且对DPPM要求高的话，需要增加功能测试补覆盖率。因为Scan测试的覆盖率不是100%，尤其是Trans的测试覆盖率一般都不高，假设Chip有1000万个门，1% 就是有10万个漏掉的门未测。

发布于2022-05-06

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