请教一个CP/FT测试问题,Scan覆盖了芯片99%以上的组合逻辑和时序逻辑,那么数字模块还需要测功能吗?为什么实际测试数据Scan和Full Chip DC参数都 pass的芯片,数字模块的测试还有Yield loss?\u0014这部分失效?

神都偏爱可靠性分析 2022-05-06 21:11:49 585阅读
请教一个CP/FT测试问题,Scan覆盖了芯片99%以上的组合逻辑和时序逻辑,那么数字模块还需要测功能吗?为什么实际测试数据Scan和Full Chip DC参数都 pass的芯片,数字模块的测试还有Yield loss?\u0014这部分失效?

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1条回答

  • 浪者不回头
    2022-05-06 21:12:04 已采纳
    如果有Scan覆盖不到的地方,且对DPPM要求高的话,需要增加功能测试补覆盖率。因为Scan测试的覆盖率不是100%,尤其是Trans的测试覆盖率一般都不高,假设Chip有1000万个门,1% 就是有10万个漏掉的门未测。
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