问一下大神们，新的NAND格式化了一次然后检测发现了200个坏块，什么原因造成的啊，要求是最多一个。如果是因为格式化的时候电压不稳造成的，是不是我再格式化一次，坏块数量会减少。
电源原因往往是很多问题的主要原因。格式化的时候电流可能较大，引起电源电压波动，导致部分格式化不成功。分析这个问题，1.用示波器同时量测电流和电压变化。2.提供干净稳定电源到芯片，看看是否结果有变化，来判断是否是因为电源问题。如果电源问题已经排除掉，第二个可以怀疑是timing问题，时钟质量，时钟频率，信号的setup time，hold time，串绕，反射等等。

发布于2022-05-16

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请教各位，对于芯片寿命加速实验的电压加速因子（参照AF(V)=EXP[Z*(Vstress-Vuse)]模型）有如下疑问：MCU芯片有3个Vuse，分别是3.3V、 1.8V 、1.1V, 正常情况下Vstress分别是用1.1倍Vuse来进行电压加速老化。但是如果需要将Vuse调整为3.3V 、1.8V 、1.2V来使用， 提问：这种情况下1.2V这路还适用这个加速模型吗？是否需要考核其他因素？
适用。此时，你的Vuse从1.1调整到了1.2，那么Vstress还能加到多少，由你的工艺耐压决定。极端情况下，你的Vstress就是等于Vuse，即电压加速因子退回为1。

发布于2022-05-06

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