失效分析 FIB/SEM双束电镜·制备TEM试样 在我们常接触的表征分析方法中，扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscopy, SEM)能对样品表面进行形貌观察与... 清酒无隐 2023-09-01 举报 1386 浏览 0 评论
电子电路设计原理 一文弄懂NPN型三极管共发射极放大电路原理 三极管的开与关三极管的工作状态为三种：截止，饱和和放大。三极管的截止和饱和想象成开关的关闭和开启，下图为典型的NPN型三极管共发射极放大电路... 清酒无隐 2023-04-25 举报 7261 浏览 0 评论
器件失效的原因分析 为什么未遭受压力的器件有时候会无缘无故地失效？有时候器件是寿终正寝，有时候是存在压力但不明显。器件的寿终正寝是一种源于物理或化学变化的累积性... 清酒无隐 2022-05-22 举报 1040 浏览 0 评论
检测设备资讯 如何用阻抗分析仪测试RLC 随着电子产品的轻薄短小及高速率，高带宽，5G/6G甚至更高的工作频率，促使电子元器件的尺寸也变得越来越小，工作频率也越来越高。这对测试电子元... 清酒无隐 2022-05-09 举报 499 浏览 0 评论
