首页
资讯
失效分析
可靠性分析
行业圈
问答库
悬赏问答
待解决的问题
已解决的问题
文献库
申请认证专家
登录
|
注册
我要发布
提出问题
发布文章
发布文档
踏雪寻梅
暂未设置签名
2
文章
2
提问
3
回答
0
粉丝
提问 (2)
回答(3)
文章(2)
粉丝
朋友圈
关注
未解决
雪崩损坏MOSFET有两种情况:一种是快速高功率脉冲,直接使寄生二极管产生较大雪崩电流,芯片快速加热过温损坏。另一种是寄生三极管导通,并发生二次击穿?什么情况下倾向于第一种发生,什么情况下倾向于第二种发生?
2022-05-17 14:50:11
355人查看
1人回复
举报
已解决
各位,有个小白问题请教一下,做完可靠性实验之后,规定72小时内进行复测,这是哪一个文件规定的呀?
2022-05-06 22:10:10
356人查看
1人回复
举报