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十七岁那年的雨季
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VGS大于VGS(th)时MOSFET导通,MOSFET刚进入米勒平台,是否就算达到了饱和?如果是这样,此时停止向G极供电,假定忽略栅极氧化层的漏电,这时VDS会一直维持比较高压降吗?感觉有点不可思议,因为其饱和以后,RDS(on)已经降了下来。如果说没有饱和,也感觉说不过去,RDS(on)和VGS有关,达到10V以后,RDS(on)已经很小了,压降也应该降下来。如果说压降自动会降下来,那不是说米勒平台后期的充电没有什么用?
VGS大于VGS(th)时MOSFET开始导通,此时电流非常小,从开通到其刚进入米勒平台,MOSFET都工作在放大区,而且器件都没有完全导通,此时MOSFET导通电阻非常大,D极的电压由整个MOSFET承受,因此电流较小,电流乘上电阻也等于VDS值,也就是D、S极所加的电源电压值。MOSFET工作在线性区时,和线性电压调节器也就是LDO,如LM7805的工作原理相同,如:当输入电压为10V,输出5...
发布于2022-05-17
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雪崩损坏MOSFET有两种情况:一种是快速高功率脉冲,直接使寄生二极管产生较大雪崩电流,芯片快速加热过温损坏。另一种是寄生三极管导通,并发生二次击穿?
是的,特别是新一代工艺的MOSFET,基本上是后一种损坏方式:寄生三极管导通。寄生三极管的导通,发生二次击穿并不全是因为雪崩发生,还可能由于dv/dt过高的原因而导致。
发布于2022-05-17
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请教一下各位,CSP 封装后的重测有没有方法能搞?大批量要上产线整的。
Film Frame Test,Fanout 给做成一个wafer再去测试比较靠谱,单颗的WLCSP听说也有handler在做,不过目前没听说普及。
发布于2022-05-08
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