青夜微凉
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请教下，t-scan和c-scan的差异？
2022-05-16 18:10:08
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请教各位，对于芯片寿命加速实验的电压加速因子（参照AF(V)=EXP[Z*(Vstress-Vuse)]模型）有如下疑问：MCU芯片有3个Vuse，分别是3.3V、 1.8V 、1.1V, 正常情况下Vstress分别是用1.1倍Vuse来进行电压加速老化。但是如果需要将Vuse调整为3.3V 、1.8V 、1.2V来使用， 提问：这种情况下1.2V这路还适用这个加速模型吗？是否需要考核其他因素？
2022-05-06 22:09:38
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各位, 热点在打线区域，decap 和x-ray 都没看到线有异常，把线间距拉宽到28um , short 现象就消失了， 这种问题，可靠性需要做哪些项目？
2022-05-06 22:03:42
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