先科普一波：
在电子元器件失效分析流程中，超声波扫描也是其中极为重要的一个环节。超声波扫描就如同医院的B超，能够对电子元器件进行“体检”，探测电子元器件内部材料包括分层，裂缝，空洞，硅片倾斜以及外来杂质。
超声波扫描显微镜SAT应用领域科普
超声波扫描显微镜含义：
超声波扫描显微镜，英文名是：Scanning Acoustic Microscope，简称SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也简称：C-SAM或SAT。
频率高于20KHz的声波被称为超声波。超声波扫描显微镜是理想的无损检测方式，广泛的应用在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。
测试分类
脉冲回波
透射式
应用场景
破坏性物理分析和失效分析
破坏性物理分析和失效分析中超声波扫描作为必要环节，用于确认料件内部是否有分层。
可靠度验证
可靠度实验中超声波扫描在来料时和预处理后，用于验证预处理项目是否对样品内部产生影响，例如芯片分层或支架分层。
质量检测
质量检测：塑封料件在制造工艺中，总会有一些出现工艺缺陷的料件。超声波扫描可用于鉴定是否存在焊接不良、芯片贴歪、空洞等问题。
真假料辨别
真假料件对比中，超声波扫描测试也起到相当重要的作用。超声波扫描可以将料件每一层的图片清晰扫描出来，两类料件进行对比。若是在结构上有差别也可以清晰的表现出来。(如下最左侧为库存样品，中间和右侧分别为现货1号和现货2号。显然现货1号的支架与库存样品不同。)
