https://doi.org/10.1002/adem.202200631
使用非晶态粉末通过一段式热压工艺（SSHD）制造钕铁硼磁体；
与传统热压工艺相比，SSHD可以显著减少磁体中粗晶区的体积分数；
变形率的增加可以促进纹理板状晶粒和均匀晶界相的形成；
在80%变现率以下，磁体的磁性能、温度稳定性和耐腐蚀性随着变形比的增加而增加。
本文做透射电镜(TEM) 测试
测试目的如下：
对比微观尺度下非晶态粉末在SSHD制备钕铁硼磁体与传统热压制备钕铁硼磁体的区别
图1
（a）在750℃下用不同变现率（Rdef）制备的一段式热压磁体；
（b）初始粉末和用热压 (HP)在700℃/400MPa/30分钟
和热变形 (HD)在750℃下
以70%的变形率制备的磁体的XRD图谱。
XRD测试结果主要表明
图2
（a,c)一步法HD和（b,d)传统HP/HD制备的
磁体的SEM图像和TEM图像。
在(b)部分，白色虚线所包围的区域是粗晶区，
而粗晶区的宽度由两个白色箭头表示。
图3
（a1-c1）SEM，（a2-c2）TEM，（a3-c3）HRTEM
与不同变形比Rdef制备的一段式热压磁体衍射图案
（a）60%，（b）80%，（c）90%
图4
不同变形率Rdef制备的一段式热压磁体TEM图像和EDS图谱
（a-a5）60%；（b-b5）80%。
扫描电镜(SEM)＆透射电镜(TEM)
测试结果主要表明：
钕铁硼类材料透射电镜（TEM）知识拓展：
优先考虑常规制样，选择离子减薄法
明场像（BF，必选项目）——使用透射电子束成像，观察钕铁硼晶粒尺寸大小。
低指数高分辨像（HRTEM，必选项目）——确认物相，测量钕铁硼晶界相厚度
能谱面扫（Mapping，必选项目）——对比分析不同样品各个元素分布情况
傅里叶(FFT)标定——从电子衍射或FFT确定各个物相以及对应取向关系。
