【AEC-Q100】针对车载集成电路的测试标准

自在笑谈往事可靠性分析 2024-02-02 17:51:30 1192阅读 举报




01

什么是AEC-Q100

AEC-Q100是AEC的第一个标准,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认,特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

AEC-Q100标准地位


AEC-Q100有四个温度等级:0,1,2,3。其中0为最高级别,相应的温度区间为-40°C-150°C。若能达到0级要求则代表产品可以用于汽车各个部件。


AEC-Q100 环境运行温度范围标准

温度范围是AEC-Q100核心标准之一。



02

要求通过的车用零件

车用一次性内存、电源降压稳压器、车用光电耦合器、三轴加速规传感器、视讯译码器、整流器、环境光传感器、非易失性铁电存储器、电源管理IC、嵌入式闪存、DC/ DC稳压器、车规网络通讯设备、液晶驱动IC、单电源差动放大器、电容接近式开关、高亮度LED驱动器、异步切换器、600V IC、GPS IC、ADAS高级驾驶员辅助系统芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器等。



03

AEC-Q100的子标准

AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标准。

AEC-Q100的子标准


04

AEC-Q100的测试项目


AEC-Q100详细规定了一系列的测试,同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组:

测试群组A(环境压力加速测试,Accelerated Environment Stress)

测试群组B(使用寿命模拟测试,Accelerated Lifetime Simulation)

测试群组C(封装组装整合测试,Package Assembly Integrity)

测试群组D(芯片晶圆可靠度测试,Die Fabrication Reliability)

测试群组E(电气特性确认测试,Electrical Verification)

测试群组F(瑕疵筛选监控测试,Defect Screening)

测试群组G(封装凹陷整合测试,Cavity Package Integrity)

AEC-Q100测试项目

对于每个测试序列中的详细测试项目,也在AEC-Q100标准中有详细的描述,并且每种测试的测试时间也根据Grade等级给出了不同的要求。在AEC-Q100的测试中,对于序列A中,测试的样品数很多都是77个,并且要求0 Fails,这就极大得增加了芯片测试的置信度。

各等级要求



05

AEC-Q100的作用

主要用于预防产品可能发生各种状况或潜在的故障状态,引导零部件供货商在开发的过程中就能采用符合该规范的芯片。AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格的质量与可靠度确认,确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功能说明等是否符合最初需求的功能,以及在连续使用后功能与性能是否能始终如一。

AEC-Q100标准的目标是提高产品的良品率,这对芯片供货商来说,不论是在产品的尺寸、合格率及成本控制上都面临很大的挑战。不管是投标还是占领市场,要想尽早进入汽车领域并且立足,AEC-Q100系列认证都将会是车规芯片认证的首选。


➤ 附上认证规范
AEC-Q100-001 邦线切应力测试;
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试;
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试;
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试;
AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级;
AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR);
AEC-Q100-009 电分配的评估;
AEC-Q100-010 锡球剪切测试;
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试;
AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述;






END

如无特别说明,本站部分所载内容来源于互联网、微信公众号等公开渠道,不代表本站观点,仅供参考、交流之目的。转载的稿件版权归原作者或机构所有。如有侵权,请联系质链网。


版权声明:
作者:自在笑谈往事
链接:https://www.cycxic.com/p/21b359419a47ca.html
来源:可靠性分析
文章版权归作者所有,未经允许请勿转载,若此文章存在违规行为,您可以点击 “举报”


登录 后发表评论
0条评论
还没有人评论过~