期刊致谢
本篇论文，作者将SLM制造出的哈氏Hastelloy X合金与锻造的镍基合金，分别进行透射表征、电化学表征分析，HX合金的XOY表面存在较小的晶向和更高密度的低角度境界，使其钝化膜更厚、更紧凑，其耐腐蚀性也大大增强。
我们仍就聚焦于论文中的透射电镜表征方面：作者如何利用透射电镜来说明XOY表面钝化膜更优？
首先，作者对SLM制造的HX合金XOY表面、 YOZ表面和锻造的镍基合金进行xrd表征。
图1 xrd结果
从xrd结果来看，无论是SLM制造还是商业锻造的的镍基合金，都是γ基体相为主，并无新相产生，但XOY面xrd显示（220）峰强度最高，具体区别需要通过透射电镜来进一步分析。
图2 透射电镜结果
图2（a）与（b）是SLM制备的XOY面与YOZ面透射明场像，XOY面与YOZ面都能观察到位错墙和亚晶，但XOY面亚晶界处位错密度高于YOZ面，同时晶界呈波浪形，但无论是XOY面还是YOZ面均未发现M23C6颗粒。
而图2（c）锻造样品明场像显示存在M23C6颗粒，但位错数量很少，晶界平直。图（d）（e）（f）分别是（a）（b）（c）对应的选区衍射。同时选取衍射也进一步证明了三个样品都是以γ相为主的xrd结果。
文章中指出由于xrd结果中的XOY面（220）峰强度最高，故为位错提供较少的滑移系，相对之下，锻造件的亚晶界位错数量少得多，且XOY面内存在胞状组织，故晶界呈波浪形。然锻造件存在M23C6颗粒，这可能造成是锻造件钝化膜不稳定的原因。
表 征 角 度
本文中涉及到的SLM制备的镍基合金与锻造镍基合金，在TEM样品制备中均可通过离子减薄、电解双喷实现。
本文TEM方面是对比位错密度以及位错结构，涉及到位错表征时，一般与材料生产方式息息相关。
若是变形样品，位错密度会很高且晶粒变形严重，一般可通过位错结构来对比分析，如位错墙、位错胞、亚晶等，甚至可以观察到滑移带、剪切带等。
若是热处理样品，尤其经过退火后，一般位错密度不高，可直接观察位错形貌或者从高分辨反傅里叶来分析位错密度。
分 析 角 度
本文XOY面与YOZ面位错密度都较高，不利于统计，若可以从高分辨角度去分析的话，效果会更好。高分辨统计位错密度，一般是通过选取某一晶面来进行反傅里叶变化进行统计。
按照惯例，给大家展示几张我们之前拍摄过的镍基合金样品的透射照片，仅供交流鉴赏：
