质量一致性D组检验是一种破坏性试验，或者是一种要消耗全部或相当大一部分设计使用寿命的长时间试验，主要包括各种可靠性试验。D组检验只能在少数样品上进行，样品应从A组和B组检验合格批的样品中随机抽取，受试样品数量与生产量或生产周期有关，在产品规范中规定。经过D组检验的样品一般不准作为产品交付。
D组检验的适用范围包括：① 产品正式生产后，如设计、结构、工艺、材料和关键元器件有变更，影响产品质量时；② 合同或订单要求进行D组试验时。
（分立器件）D组测试项目介绍
项目 | 方法GJB128 | JY级抽样数 | JCT级抽样数 | |
1 | 中子辐射 | 1017（MOS器件不做，电荷耦合/双极型元件是器件功能的一个集成部分，做此试验） | 11（0）按晶片批可以失效1个但需追加7个无失效 | 11（0）按检验器件批可以失效1个但需追加7个无失效 |
| 终点测试 | ||||
2 | 稳态总剂量辐射 | 1019 | 4（0）半径为晶片半径2/3周围存在>4000只芯片 | 22（0）按检验器件批可以失效1个但需追加16个无失效 |
| 终点测试 | 2（0）半径为晶片半径2/3周围存在≤4000只芯片 | |||
3 | ‘γ总剂量 | 3478 | 11（0）按晶片批可以失效1个但需追加7个无失效 | 11（0）按检验器件批可以失效1个但需追加7个无失效 |
| 终点测试 | ||||
| 备注：1、本组做完器件不能做其他组，但可以做更苛刻。2、不在规定时间内进行，总辐射量不可累加。3、鉴定未列，只列质量一致性要求 | ||||
（集成电路，B、S级）D组测试项目介绍
项目 | 方法GJB548 | 抽样数 | |
1 | 外形尺寸 | 2016 | 5（0）可用同批电参数不合格样品 |
2 | 引线牢固性 | 2004试验条件B2（引线疲劳），样品应先满足密封测试。引线片式载体条件B1，针栅阵列引线方法2028，无引线片式载体条件D | 45（0）可用同批电参数不合格样品，45应是引线数或引出端数，至少3器件，45不足则全测。 |
| 密封（细检漏） | 1014玻璃熔封引线的封装才做 | ||
| 密封（粗检漏） | |||
3 | 热冲击 | 1011至少试验条件B，至少循环15次 | 15（0） |
| 温度循环 | 1010试验条件C，至少100次循环 | ||
| 耐湿 | 1004或1010目检判据 | 15（0） | |
| 目检 | |||
| 密封（细检漏） | 1014 试验前锈蚀物毛刷刷除 | ||
| 密封（粗检漏） | |||
| 终点电测 | 器件规范 | ||
4（可用3组器件） | 机械冲击 | 2002至少条件B | 15（0） |
| 扫频振动 | 2007至少条件A | ||
| 恒定加速度 | 2001条件E仅Y1方向 | ||
| 密封（细捡漏） | 1014 | ||
| 密封（粗捡漏） | |||
| 目检 | 1010或1011判据 | ||
| 终点电测 | 详规（测试节点自定，可在耐湿之后密封之前做） | ||
5（可用同一批中电参数不合格器件） | 盐雾 | 1009 至少条件A | 15（0）订货最多500个+订购计划最多2000个+12个月内最多提供2000个，可以用5（0） |
| 目检 | 1009 | ||
| 密封（细检漏） | 1014试验前锈蚀物毛刷刷除 | ||
| 密封（粗检漏） | |||
6 | 内部水汽含量 | 1018 | 3（0）或5（1）3个出现1失效加试2个应无失效（应做失效分析），还不合格应在鉴定机构认可的另一实验室试验且合格，则2批结果+再测5颗合格结果提交，验收 |
7 | 引线涂覆 | 2025不适用于无引线片式载体封装 | 15（0）为引线数 |
| 粘附强度 | |||
8 | 封盖扭矩（玻璃熔封） | 2024 | 5（0） |
| 备注：1、鉴定机构批准，在线监控数据可替代D1、D2、D6、D7、D8。2、每种封装的每种引线涂覆工艺均应D3、D5、D7（镀锡、镀金不做D7）。 | |||
