NMOS其中一个管子发现有损伤,但是右面放大的 L-PVC发现规律的3个灰度,这个和 烧伤有关联吗?
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其中一个管子的失效 ,会引起整个wel l中的器件电位发生变化,从而导致和相邻的相同模块在VC下有明暗差异 ;建议对热点位置进行FIB/TEM分析失效模式就可以找出原因。
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